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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics (179))

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出版社: Springer

ペーパーバック: 232 ページ / 15.5 x 1.3 x 23.5 cm / 361.0 g

ISBN-10: 3662146371  ISBN-13: 9783662146378  [この本のウィジェットを作る]