Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics (179))
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出版社: Springer(2013-10-04)
ペーパーバック: 232 ページ / 15.5 x 1.3 x 23.5 cm / 361.0 g
ISBN-10: 3662146371 ISBN-13: 9783662146378 [この本のウィジェットを作る]